射频（RF）探针在射频产品生命周期中几乎每一个阶段都起着重要作用：从技术开发，模型参数提取，设计验证及调试一直到小规模生产测试和终的生产测试。通过使用射频探针，人们便有可能在晶片层次上测量射频组件的真正特性。这可以将研究和开发时间缩短并且大大降低开发新产品的成本。
村田探针主要与带开关的高频同轴连接器和高频同轴连接器相匹配来测试使用。不同型号的高频同轴连接器对应的村田探针型号也不相同，不同的排列方式也有不同体积的探针选择。

村田校准适配器用于探针的校准。适配器一侧带有SMA接头，另一侧匹配村田连接器形状，可以连接网络分析仪和相应探针进行校准。常用型号有MM126312,MM126712等。

奥纳科技销售射频探针，主要是日本muRata村田探针。
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村田无电缆探针主要用于实验室评估，测量电缆能够与村田探针相连，配合完成后，探针可凭借与连接器接触点上的夹爪自行站立，配合完成后对探针施加的任何压力都可能导致探针脱落，连接受损或电级剥离。需要细心使用测试。这类探针一般采用SMA接口进行转接。
其他一些相关的概念
Probe pitch：指的是针尖(Probe Tips)之间的间距，一般在50-1000um之间不等。对于毫米波频率的应用，针尖间距一般都比较小。
Probe skate :当你在Z轴方向往下“按压”探针时，当探针接触到DUT，它将在ZY平面弯曲移动。通常，这也是我们判断针是否扎上的一个现象。
De-embeding :去嵌是在探针出现之前就有的技术，之前经常用在一些标准的分立的夹具测试中。